资料摘要
资料下载高空间分辨率和低的光损伤风险使得双光子激光扫描显微镜TPLSM成为生物功能成像的选择。但是，如神经钙离子调控等功能性动态研究通常也需要一个高的时间分辨率。目前，通过线扫描可以获取速度的提升，但是将结构的空间分辨率限制在一条轴上。为克服高空间分辨率和高时间分辨率间的空白，我们改进了TPLSM，使用一个多倍分光器来在样品中产生多个激光焦点。通过使用一个电子倍增相机检测这些焦点释放的荧光，它可以支持同时进行多条线扫描。除了多线扫描，高达64束的阵列也允许使用X-Y扫描模式去以高的帧速获取整幅图像。为估测多线扫描TPLSM在功能性原位成像中的应用，监测了苍蝇大脑中的视觉运动神经元中的钙离子信号。以分枝状轴突和棘突状结构的测量为例展示了我们的方法对于从不同细胞位置同时获取信号的能力。钙离子动态依赖于分支大小，但是“棘突”与他们的“母轴突”并没有系统性的区别。我们设备的空间分辨率与激光共聚焦显微镜进行了严格比较并通过运行成像和点扫描模式直接评估图像检测过程中释放光散射的负面效应。
文献贡献者
超精准可调节温度控制模块-VAHEAT 产品简介
简介：德国INTERHERENCE公司推出的超精准可调节温度控制模块-VAHEAT是一款用于光学显微镜的精密温度控制模块，兼容市面上绝大多数的商用显微镜和物镜。该模块独有的智能基底将透明加热元件与高灵敏度温度探头相结合，实现了在高清成像的同时快速和精确地调节温度，加热速率可达100℃/s，最高温度可达200℃，稳定性0.01℃。该模块尤其适用于生命科学和材料科学中的温度敏感过程研究，如活细胞高分辨成像、DNA生物学、热休克蛋白、相分离等。
聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d-技术介绍
简介：ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。此外，ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致，其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。
激光闪光法热常数测量系统-TC-1200RH-技术介绍
简介：日本Advance Riko公司新推出的激光闪光法热常数测量系统（型号：TC-1200RH）使用红外金面炉替代传统电阻炉加热，大大缩短测量时间。可应用于热电材料的研究与开发，及其他材料的热物理性能评价。 TC-1200RH系统采用符合JIS/ISO标准的激光闪光法测定材料的三个重要热物理常数：热导率（导热系数）、热扩散系数及比热容。
纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω-技术介绍
简介：日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比，样品制备和测量为简单。
石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统-技术介绍
简介：如何在不破坏样品的前提下，对大尺寸石墨烯等二维材料的电学性质进行准确快速的测量，是在提升样品质量并推进其实际应用中，亟待解决的重要问题。常规的四探针电阻测量法、原子力显微镜、共聚焦拉曼等表征方法存在测量尺寸小、效率低、对样品有损伤等缺点而无法胜任。 西班牙Das Nano公司推出的石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统-ONYX，采用非接触式方式，快速准确且高效的实现大尺寸石墨烯等二维材料的无损测量，得到电导率、电阻率、载流子和均匀性等分布信息。此方法同样适用于其他二维材料、半导体薄膜、光伏薄膜的电学性质测量。该方法已经成功应用在西班牙CIC nanoGUNE研究中心等著名高校和企业。 与传统四探针测量法相比，ONYX无损测量样品质量空间分布 与拉曼，AFM，SEM相比，ONYX能够快速表征超大面积样品
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