资料摘要
资料下载MicroSense公司（以前的DMS和ADE公司）具有近30年的生产振动样品磁强计和其他磁测量设备的行业经验，其生产的振动样品磁强计（VSM）已经成为许多大学和科研机构实验室、包括公司和企业必不可少的设备之一。该设备能够测量多种磁性样品，包括：声频、视频数据磁带，软磁媒体，溅射与电镀型薄膜磁盘，磁光盘，多层膜结构，软、硬磁铁氧体，磁粉，永磁材料，高温超导体，强磁性铁镍合金以及其他软磁材料。 EZ-VSM可以进行几乎所有的磁学实验测量：比如磁滞回线和小磁滞回线、IRM和DCD剩磁曲线、S F D、Delta M、Delta H、Henkel Plots、变角和AC剩磁曲线、温度扫描和时间衰减等测试。同样，用户也可以通过系统功能来进行自定义测量。用户只需灵活的运用Easy VSM软件进行编程即可完成。该软件具有的处理数据能力，可以直接读取HCB、HCJ、磁能积和各向异性场等参数，对研究永磁的客户非常方便。另外，该设备具有1mOe的磁场分辨率，无需选购配件即可测试软磁样品，甚至可观测到教科书上提到的巴克豪森跳跃。
文献贡献者
超精准可调节温度控制模块-VAHEAT 产品简介
简介：德国INTERHERENCE公司推出的超精准可调节温度控制模块-VAHEAT是一款用于光学显微镜的精密温度控制模块，兼容市面上绝大多数的商用显微镜和物镜。该模块独有的智能基底将透明加热元件与高灵敏度温度探头相结合，实现了在高清成像的同时快速和精确地调节温度，加热速率可达100℃/s，最高温度可达200℃，稳定性0.01℃。该模块尤其适用于生命科学和材料科学中的温度敏感过程研究，如活细胞高分辨成像、DNA生物学、热休克蛋白、相分离等。
聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d-技术介绍
简介：ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。此外，ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致，其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。
激光闪光法热常数测量系统-TC-1200RH-技术介绍
简介：日本Advance Riko公司新推出的激光闪光法热常数测量系统（型号：TC-1200RH）使用红外金面炉替代传统电阻炉加热，大大缩短测量时间。可应用于热电材料的研究与开发，及其他材料的热物理性能评价。 TC-1200RH系统采用符合JIS/ISO标准的激光闪光法测定材料的三个重要热物理常数：热导率（导热系数）、热扩散系数及比热容。
纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω-技术介绍
简介：日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比，样品制备和测量为简单。
石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统-技术介绍
简介：如何在不破坏样品的前提下，对大尺寸石墨烯等二维材料的电学性质进行准确快速的测量，是在提升样品质量并推进其实际应用中，亟待解决的重要问题。常规的四探针电阻测量法、原子力显微镜、共聚焦拉曼等表征方法存在测量尺寸小、效率低、对样品有损伤等缺点而无法胜任。 西班牙Das Nano公司推出的石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统-ONYX，采用非接触式方式，快速准确且高效的实现大尺寸石墨烯等二维材料的无损测量，得到电导率、电阻率、载流子和均匀性等分布信息。此方法同样适用于其他二维材料、半导体薄膜、光伏薄膜的电学性质测量。该方法已经成功应用在西班牙CIC nanoGUNE研究中心等著名高校和企业。 与传统四探针测量法相比，ONYX无损测量样品质量空间分布 与拉曼，AFM，SEM相比，ONYX能够快速表征超大面积样品
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