资料摘要
资料下载四电弧高温单晶生长炉是新的高温材料合成方法,非常适合生长化学性质活跃但熔点高(一般在3000摄氏度左右)的金属间化合物,包括含有稀土元素(或者金属铀)的二元及四元金属间化合物,例如UGe2, UPt3, V3Si, URu2Si2, RE2Co17 , CePd2Al3, REFe10Ti2 合金单晶以及Nd2Fe14B, URhAl, UNiAl and RENi5等合金单晶。生长的过程中,原料放在旋转的铜坩埚中,四个电同时放电形成高温熔化原料,精密控制的拉晶棒使用Czochralski方法将熔化的原料拉成单晶。样品室的真空度可达10-6托,也可以充入保护性气体。
超精准可调节温度控制模块-VAHEAT 产品简介
简介:德国INTERHERENCE公司推出的超精准可调节温度控制模块-VAHEAT是一款用于光学显微镜的精密温度控制模块,兼容市面上绝大多数的商用显微镜和物镜。该模块独有的智能基底将透明加热元件与高灵敏度温度探头相结合,实现了在高清成像的同时快速和精确地调节温度,加热速率可达100℃/s,最高温度可达200℃,稳定性0.01℃。该模块尤其适用于生命科学和材料科学中的温度敏感过程研究,如活细胞高分辨成像、DNA生物学、热休克蛋白、相分离等。
聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d-技术介绍
简介:ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品薄为10μm。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。
激光闪光法热常数测量系统-TC-1200RH-技术介绍
简介:日本Advance Riko公司新推出的激光闪光法热常数测量系统(型号:TC-1200RH)使用红外金面炉替代传统电阻炉加热,大大缩短测量时间。可应用于热电材料的研究与开发,及其他材料的热物理性能评价。 TC-1200RH系统采用符合JIS/ISO标准的激光闪光法测定材料的三个重要热物理常数:热导率(导热系数)、热扩散系数及比热容。
纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω-技术介绍
简介:日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比,样品制备和测量为简单。
石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统-技术介绍
简介:如何在不破坏样品的前提下,对大尺寸石墨烯等二维材料的电学性质进行准确快速的测量,是在提升样品质量并推进其实际应用中,亟待解决的重要问题。常规的四探针电阻测量法、原子力显微镜、共聚焦拉曼等表征方法存在测量尺寸小、效率低、对样品有损伤等缺点而无法胜任。 西班牙Das Nano公司推出的石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统-ONYX,采用非接触式方式,快速准确且高效的实现大尺寸石墨烯等二维材料的无损测量,得到电导率、电阻率、载流子和均匀性等分布信息。此方法同样适用于其他二维材料、半导体薄膜、光伏薄膜的电学性质测量。该方法已经成功应用在西班牙CIC nanoGUNE研究中心等著名高校和企业。 与传统四探针测量法相比,ONYX无损测量样品质量空间分布 与拉曼,AFM,SEM相比,ONYX能够快速表征超大面积样品
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