仪器简介:适用于Windows®2000的真Win32位程序带在线帮助功能;
频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用;
能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使校准简单化;
画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;十字星瞄准并带度量网格,以及测试点尺寸指示;
测试工件的视频图像可用BMP文件形式保存;
XYZ运行编程功能:随机单点,第1点、最后1点及等分的中间点,鼠标左键点选功能,鼠标右键的使用相当于操纵杆;
测量模式用于:
单、双及三层镀层系统
双元及三元合金镀层的分析和厚度测量
双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)
能分析多达四种金属成分的合金并具分析金的K数的特殊功能。能分析含一到二种金属离子的电镀溶液;
频谱显示可自由选择颜色;并可同时显示前台和背景的频谱以便比较;频谱可储存和打印;
可使用定义的文件名进行应用文件的管理(应用文件包含应用名,数据表示方式,打印形式定义,输出模板设定及记事本);
用户可定义的报告编辑器,并自动插入测试工件的显示图像,及一些小的图片,如公司标识,图表,数据排列,字体选择;可以WinWordTM形式保存;
单个的应用可连接至任意数量的应用文件(此种连接大大减少了所需要的校准及初始化步骤);
使用条形码标签及可选的条形码读入键盘可自动选择应用;
可选择数据进行统计评估;
通过RS232串行口进行在线或离线的数据输出;
可通过RS232串行口或在网络环境下的指令文件进行远程控制;
可编程的应用项图标,用于快速应用项选择
完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估
语言:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,中文及日文(需要特殊的Windows®版本);
可自由定义“短目录”以锁住某些重要的系统功能;
技术参数:1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法,符合技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568;
2.测量箱结构坚固,使用合格的机械和电气部件;
3.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)720 mm×660 mm×950 mm,重量大约为135kg;
4.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)160 mm×560 mm×530 mm,带向上回转箱门;
5.原始射线从上至下;
6.高性能的X-射线管,高压及电流设定可调节至最佳的应用,高压设定:50kV,40kV或30kV;阳极电流:连续可调至0.8mA;
7.原生电子过滤器:Ni和Be;
8.4个对焦平面用于凹槽,腔体的测量,并可达到90mm;
9.标准视准器组件Ⅰ有以下组成:
0.1mm(4mil); 0.2mm(8mil); 0.05x0.05mm(2x2 mil)方形; 0.03x0.2mm(1x8mil)带槽;
在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅱ(取代组件Ⅰ)有以下组成:
0.1mm(4mil); 0.2mm(8mil); 0.3mm(12mil)圆形; 0.05x0.3mm(2x12mil)带槽;
在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅲ(取代组件Ⅰ)有以下组成:
0.2mm(8mil);圆形; 0.05x0.05mm(2x2mil);0.025X0.025mm(2X2mils)方型;0.03mmX0.2mm(1.2X8mil)带槽;
注:当测量PC印板,电脑接插件,引线框架等小工件时,推荐使用视准器组件Ⅰ
10.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用;
11.充氙气的比例计数器,频谱处理时,内部采用4096通道的ADC,对外显示为256通道;
12.快速编程,高精确度,电机带动的XY工作台运行范围:
型号XDVM®-T7.1:X=175mm(7.0〃), Y=175mm(7.0〃)
型号XDVM®-T7: X=250mm(10.0〃), Y=250mm(10.0〃)
13.工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆
14.工作台面板可自动移出至工件放置位置;定位容易;
15.电机驱动及高度(Z-轴)可编程的X-射线头部(X-射线管,比例计数器及视准器组件);Z-轴运行=145mm(5.9〞);
16.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看;可选择的双重放大率X40/X80,带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示;
17.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择,操纵杆控制X-Y工作台,钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动,LED状态指示灯。
主要特点:FISCHERSCOPE® XDVM®-W是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括:2组可切换的各带4个视准器的视准器组,大的开槽的测量箱体确保工件放置简便,精确的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。
这个特性使得该系统非常适合于测量大批量生产的部件,例如螺丝,连接器插针或大的线路板。按动按钮就可根据预设的测试点定位进行自动测量,并可自动的进行评估报告输出。
菲希尔测试仪器(中国)有限公司为您提供菲希尔X-射线荧光镀层厚度测试仪XDVM-W,菲希尔XDVM-W产地为德国,属于X射线荧光测厚仪,除了X-射线荧光镀层厚度测试仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多X射线荧光测厚仪,菲希尔(Fischer)客服电话400-801-9315,售前、售后均可联系。