上海星门国际贸易:半导体 Si中痕量元素分析

2017/10/15   下载量: 4

方案摘要

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应用领域 半导体
检测样本 其他
检测项目
参考标准 国标

本解决方案设计多种前处理设备,既可以单独使用,也可以配合使用,提高处理效率。仪器自动化程度高,样品处理效率,使用方便,适用面广。

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      本方案针对食品、土壤、水等不同种类样品,提供了详细的解决方案。

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