型号: | SolidSpec-3700 |
产地: | 日本 |
品牌: | 岛津 |
评分: |
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仪器简介:
岛津作为世界上主要的光谱仪器制造商,一直追求仪器的尽善尽美,最新开发出紫外可见近红外分光光度计高端产品SolidSpec-3700/3700DUV采用了PMT/InGaAs/PbS三个检测器,新加入的InGaAs实现了近红外区的超高灵敏度;并重新设计光路,设计了超大的样品室,实现了大样品的无损测试,同时在主机标准配置了积分球装置;通过使用最新设计的检测器,光源,以及积分球,使得SolidSpec-3700DUV的测试范围可以扩展到165nm。
技术参数:
最大波长范围: 165-3300nm
分辨率: 0.1nm
谱带宽度: UV/Vis: 0.1/ 0.2/ 0.5/ 1/ 2/ 3/5/8nm 8段转换
NIR: 0.2, 0.5, 1, 2, 3, 5, 8, 12, 20, 32nm 10段转换
检测器: 光电倍增管 / InGaAs /Cooled PbS
杂散光: 0.00008%T 以下 (220nm,NaI 10g/L 溶液 );
0.00005%T 以下 (340nm, NaNO2);
0.0005%T 以下 (1420nm, 水 );
0.005%T 以下 (2365nm, 氯仿 );
内部尺寸: 900W×700D×350H
最大试样体积: 700W×560D×40H
主要特点:
1、高灵敏度-世界独一无二的三检测器系统
安装三个检测器,标准配备积分球:光电倍增管用于紫外区和可见区;InGaAs和PbS检测器用于近红外区。InGaAs检测器覆盖了光电倍增管和PbS检测器的薄弱范围,保证了整个测量范围的高灵敏度。
2、立体光路和超大的样品室
立体光路和超大样品室以及积分球的结合使用,可以对例如FPD等大的样品进行无损分析。
3、深紫外的测定
采用DUV深紫外的测定系统配备氮气吹扫,可以使测量范围扩展到165nm。
4、应用领域广泛
在FPD(Flat Panel Display平面显示器,包括液晶、等离子显示器)相关领域。
在半导体相关领域,在对于12英寸的硅片的测定时,也需要有大样品室的支持。
在光学通信相关领域,经常需要在近红外区对防反射膜做评价(防反射膜的低透射率性能),所以近红外的高灵敏度变得非常重要。
在光学材料相关领域中,从深紫外到近红外区都需要有很高的精度,同样需要有无损的测定,所以同样重视大样品室。
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