方案摘要
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参考标准 |
X-射线荧光是确定样品成分的最通用的方法。曝露在X- 射线下的样品,每个样品成分将产生独一无二的X-荧光射线。接下来的分析结果是将标准品与所给化学品进行比较。材料的样品制备变的越来越重要,因为在过去的几年当中,软件和X射线设备提高了追踪分析检测限度,因此颗粒尺寸非常关键,需要达到20微米到60微米之间,颗粒大小影响结果非常显著,随着颗粒尺寸的增加,X-射线强度减弱。
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