精谱仪器Thick 900B型 X荧光镀层测厚仪

   1．仪器外观选用独特的流线型设计，时尚雅致。 2．同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。 3．可以分析最多5层镀层，一次可分析元素多达24种。 4．无需复杂的样品预处理过程，无损测试。 5．检出限可达到2ppm。 6．分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm 。 7．采用美国原装、国际先进SDD探测器，能量分辨率高。 8．采用美国原装、国际先进的AMP，处理速度快，精度高，稳定可靠。 9．X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。

     我公司集中了国内最优秀的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员，依靠先进科学研究，总结多年的现场应用实践经验，结合中国的特色，开发生产出的Thick-900B 型X荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。

  1． X-Y-Z样品平台移动装置 Thick-900B型X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。 2. X射线管激发系统 激发系统采用独特的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。最大功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命X光管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、国际先进水平的X光管，指标达到国际先进水平。最大功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。 3．高分辨率的探测器系统 进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。最佳分辨率能达到139eV±5ev。

     Thick-900B型X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。

      镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。