精密测量薄膜厚度,同时具有指针和数显功能。
参数:
测量范围:-2000µm ~+2000µm 分 辨 率:0.1µm 测量范围:-200µm ~+200µm 分 辨 率:0.01µm
附件: 高精度探头1340 重复精度:0.1µm
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