植物根系X-光扫描成像分析系统

植物根系X-光扫描成像分析系统

参考价：面议
型号： ROOTVIZ FS
产地： 美国
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上海泽泉科技股份有限公司
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产品详情
PSC公司成立于2004年，2年后其首款产品植物根系X-光扫描成像分析系统RootViz FS面世，并于今年6月获得2006年度美国R&D 100大奖。RootViz FS是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统，用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析，可以拍摄根系的立体X-光照片。是继根视系统后植物根系研究领域最激动人心的发明。美国R&D 100大奖被称为"发明界的奥斯卡奖"，RootViz FS刚一面世即获此大奖，足见其影响力之大。

这套系统是植物根系研究领域继根视（rhizotron）系统（如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统）后最激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后，借助扫描仪进行分析，这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分，而且属于离体分析，不能进行动态监测。而植物根系X-光扫描分析系统是非破坏性的原位分析系统，可以全方位分析植物根系所有部分（包括根尖等），并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应。

根系X-光成像的特性
* 高分辨率的X-光立体成像
* 进行长期动态监测
* 获得原位根系角度信息
* 完全可控条件下的生理、病理实验
* 大规模快速筛选根系突变株

根系X-光扫描成像系统的主要技术参数
* X-射线发生器: 25KeV@800uA
* X-射线数码相机: 2002 x 2054 CMOS；GdOs Scintillator
* 精确的三维调节工作台
* 速度：平面图25株/h；立体图15株/h
* 范围：最大根长0.6 m；最大高度2.1 m
* 分辨率：2002×2054像素

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