美国CID公司从成立之初一直秉承轻便、操作简单的设计理念,开发和制造适合田间林地测量的仪器。CID公司的仪器,轻便的设计让客户可以解放自己的双手,便于在田间或林地使用,科学严谨的态度保证数据测量的科学性和准确性。新的植物冠层分析仪CI-110经过近一年的设计和不断的改进,终于在今日面世。它进行了全面的升级,不仅仅继承了之前的可视化功能,而且摒弃了之前的必须连接电脑不便之处,单手就可以在林地、田间测量植物冠层,非常的便捷。
新的植物冠层分析仪CI-110利用高清的鱼眼镜头和CCD图像传感器来获取植物冠层图像。通过专业软件分析,获得植物冠层的叶面积指数(LAI)和冠层其它的参数;自动水平数字相机获取150°的冠层图像,手柄上24个PAR传感器测量光合有效辐射并计算光斑。CI-110图像法测量植物冠层,仅仅获取一次冠层图像即可,简化了传统能量法要一天定点多次测量的繁复工作;同时可以躲开障碍物,选择合适测量点。
新的CI-110分析软件不仅可显示PAR光合仪有效辐射、Sunfleck值、GPS信息,还可以进行天顶角和方位角的分区,可以获得不同区域内的太阳直接辐射、消光系数、叶片的方位分布等参数。
新的CI-110性能更佳,操作更佳简便,为客户提供科学的、精确的数据分析,我们非常欢迎新老客户前来咨询。
预告│泽泉云课堂:植物生理生态及叶绿素荧光技术讲座(8月23日 9:00)
泽泉科技2022年招聘开始啦,诚邀您加入我们!
德国LemnaTec公司完成企业重组
泽泉科技应邀参加第十七届中国生态学大会 助力美丽中国建设
相关产品
关注
拨打电话
留言咨询