方案摘要
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近红外分光学被用于一系列应用:从测定农产品的质量到研究宇宙新形成星体的成分。当近红外与多变量校准技术结合的时候,就成为有力的分析工具。一个单独的近红外光谱指纹图可以提供样品的详细信息。在本应用说明中,NIRQuest512型近红外分光计被用于测定电路卡组件(CCA)污染物的特性,最终, 查明CCA故障的根本原因。
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