方案摘要
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| 参考标准 | - |
测量样品的量子产率有两种方法： 相对量子产率测量：需要一种已知量子产率的标准品作为参照，通过对标准物和样品进行吸光度和荧光的测量换算得到样品的量子产率。只适用于液体样品。 绝对量子产率测量：不需要 标准样品进行对比，广泛适用于液体、薄膜和粉末样品。在进行测量时需要积分球附件；积分球内表面涂层一般是高反射性材料，比如硫酸钡和聚四氟乙烯。样品表面各个方向的激发光或者是发射光进行积分球均匀化后从出射口出来，并进入到单色器中最后被检测器检测到。
量子点：
（Quantum dot，QD）又称半导体纳米晶，是导带电子、价带空穴及激子在三个空间方向上受束缚的半导体纳米结构，其三维尺寸通常在2-10nm范围内，呈近似球形，市场上使用的量子点材料多为核壳结构。
量子点材料：
分为元素半导体量子点、化合物半导体量子点、异质结量子点，常见的量子点由IV A、ⅡB-ⅥA、ⅢA-ⅤA或者ⅣA-ⅥA, 族元素组成，如Si,Ge,CdSe,CdTe, CdS, ZnSe,ZnS,InP,InAs,PbS, PbSe 等半导体材料。
量子点发光原理
量子点能把电子锁定在非常微小的三维空间内，电子运动受到限制，对其施加一定的电场或光照会发出特定频率的光，发光频率随着颗粒尺寸的改变而变化，通过调节量子点的尺寸可以控制其发光的颜色。
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