Product Decifications

2013-12-20 15:14  下载量:2

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美国P+E 公司研发制造的的HEMS 氢气杂质分析质谱通过专利的氢气杂质分离技术,实现对这些杂质的行即时识别和定量分析,实时检测浓度可低至ppb,完全无需样品准备,直接在线监测,非常适用于在商业、工业和科研环境中操作。

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