型号: | XD7500 |
产地: | 英国 |
品牌: | Dage |
评分: |
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英国DAGE公司 X光测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求,用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管(Open Tube)技术,在放大倍数方面远远超过了采用闭管(Closed Tube)技术的X光检测仪达到亚微米级,能满足客户更高精度的需求。
观察右下方的照片,你可以对该仪器在PCB和半导体行业的应用有一个大概的了解。在对物体需要进行几百甚至几千倍的放大观察时, 你一定需要该机器的协助!在制造业向生产更精巧,更密集的方向发展时,该仪器就显得必不可少,进一步的具体应用,请与我们联络!
技术参数:
规格 | XiDat XD7500 | XiDat XD7500VR |
尺寸(长x宽x高) | 1450 x 1700 x 1970mm | 1450 x 1700 x 1970mm |
重量 | 1900 KG | 1900 KG |
最小聚集光点 | 1micron | 0.95micron |
X光发射管 | 开放管 | 开放管 |
X 射线管电压范围 | 30-160 KV | 30-160 KV |
最大检测面积 | 458MM x 407MM | 458MM x 407MM |
最大板尺寸 | 508MM x 444MM | 508MM x 444MM |
最大样本重量 | 5 KG | 5 KG |
电源 | 单相 200-230V/16A | 单相 200-230V/16A |
斜角视图 | 0-70°(360°全方位检测) | 0-70°(360°全方位检测) |
系统(几何)放大倍率 | 1065x | 1200x |
辐射安全标准 | 1uSv/Hr(符合欧美标准) | 1uSv/Hr(符合欧美标准) |
主要特点:
DAGE7500 VR X光无损检测系统 主要特征:
• 最小分辨率:950纳米(0.95 微米);
• 影像接收器左右偏转角度各70度(共140度),旋转360度;
• 图像采集:1.3M万数字CCD;
• 最大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm);
• 最大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm);
• 系统最大放大倍数: 至5650X;
• 显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS);
• 安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等
X光检查在PCB及半导体行业中被认为是最关键的测试步骤。在当今的封装设计中发现缺陷是非常重要的,因此,X光系统必须在不同的观察角度能够提供高分辨率、高放大倍率和高对比度的图像。
在评定一台X-Ray时,检测速度的快慢和用户友界面是否友好都是必不可少的。
DAGE XD7600 XiDAT系列X光机安装的软件版本为具有图像引导功能的DAGE11。该软件使用方便,具有进行亚微米级的观察、自动检测、动态的波动分离、图像抓拍、最友好的用户界面等优势。
该设备是标准的配置,能够提供实时的高质量数字式的X光图像,图象的分辨率和灰阶都有很大程度的增强,最大可达70度的倾角观察。
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