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2012-05-09 15:24  下载量:2

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AEHR 老化测试系统 1. 老化测试系统ABTS-L 1) 高可靠性老化测试系统 2) 可作环境测试的同时进行Functional Test 3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots 4) 1个Driver Board对应一个Zone 5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计 6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换 7) 有High power类应用配置 8) 可客制化配置 9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB! 2. 老化测试系统ABTS-Mini 配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合 例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots 3. 老化测试系统ABTS-Double Mini 配置同ABTS-Mini 为两台MINI叠加 有2个温度区,应用于多温度需求 标准12slots,可Up to 24slots.

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