方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 其他 |
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参考标准 | 材料 |
薄膜测量系统是基于白光干涉的原理确定光学薄膜的厚度,通过对白光干涉图样进行数学运算来计算出薄膜的厚度。
薄膜测量系统是基于白光干涉的原理确定光学薄膜的厚度,通过对白光干涉图样进行数学运算来计算出薄膜的厚度。
薄膜计量学包括计算薄膜是否存在和其厚度的数学方法,这些薄膜可以通过各种方法沉积到基片材料上。该项技术适合于从轮廓测量法到椭圆测量法,光谱反射法和X射线分析的测量方法。Avantes设备和光纤采样工具有利于光学反射测量,支持从半导体到太阳能和光学镀膜等多领域测量应用。
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