BET比表面积仪、比表面及孔径分析仪和真密度仪将亮相于第30届全国化学与物理电源

北京国仪精测技术有限公司

2013/07/11 14:32

BET比表面积仪、比表面及孔径分析仪和真密度仪将亮相于第30届全国化学与物理电源学术年会
第30届全国化学与物理电源学术年会定于2013年7月12-15日在上海交通大学举行，为隆重纪念该学术年会举办30次，将广泛邀请官产学研各界朋友，结合国家“十二五”新能源、新材料、电动汽车和智能电网等规划，深入讨论动力电池、太阳电池和燃料电池等电化学能源技术的发展方向，交流化学与物理电源基础研究和应用研究的最新成果。通过学术论坛、成果展示，加强产、学、研、用的交流与合作，共同促进中国化学与物理电源行业的学术进步、技术水平提升和产业健康发展。
届时北京金埃谱科技有限公司将展览我司BET比表面积仪、比表面及孔径分析仪和真密度仪三个系列产品，欢迎新老顾客莅临现场交流。

会议主题：自主创新引领可持续发展，从“中国制造”走向“中国创造”
会议宗旨：加强产学研用合作，全面提升电能源技术能力
主办单位：中国电子学会化学与物理电源技术分会
中国化学与物理电源行业协会
中国电工技术学会电池专业委员会
化学与物理电源重点实验室
承办单位：中国化学与物理电源行业协会
上海交通大学电化学与能源技术研究所
中聚电池研究院
会议日期：2013年7月12-15日
会议地点：上海交通大学（上海市闵行区东川路800号）
会议网址： http://ciaps2013.sjtu.edu.cn

阅读1266次

关注

上一篇环保部：尽快制定政策引导页岩气开发

下一篇金埃谱科技2013国庆放假通知

关注

拨打电话

留言咨询