全自动BET比表面积测试仪亮相于第四届以色列纳米科技会展

北京国仪精测技术有限公司

金埃谱科技在以色列参加第四届国际纳米科技会展，并展出全自动BET比表面积测试仪。会展详情如下：

ü 名称: The 4th International Nanotechnology Conference & Exhibition

ü 日期: 2014年3月24-25日

ü 地址: 以色列特拉维夫David InterConteniental酒店

ü 官网: http://www2.kenes.com/nano/information/Pages/Information.aspx

NanoIsrael 2014是由以色列国家纳米研究所和以色列大学纳米研究中心共同承办，得到了以色列贸易部、外交部及诸多大学及科技企业的支持。会展主要涉及纳米技术的研讨、纳米材料的应用以及测试设备的展出等。

金埃谱科技位于北京海淀区高新技术区——中关村。主要从事BET比表面积仪，比表面积及孔径测试仪，全自动真密度测定仪以及高温高压气体吸附仪等。所有系列均通过ISO9001： 2008认证，获得了国家计量院的校准证书，部分专利技术已达到国际先进水平。

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