金埃谱公司受邀参加“中国颗粒学会第七届学术年会”

北京国仪精测技术有限公司

2010/09/19 09:03
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    2010年8月15-18日，中国颗粒学会第七届年会在西安举行，作为新一届行业盛会，将汇集400多位专家学者、工程技术人员及企业界代表参加。 
    北京金埃谱科技公司总经理夏攀受邀在“颗粒测试与应用”论坛做了《比表面及孔径分析技术在粉体行业中的应用》的主题发言。 
    欲了解更多相关信息请致电我公司与夏攀总经理做进一步交流。免费技术交流电话:400-888-2667

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