资料摘要
资料下载全反射X荧光（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，于1971年Yoneda等首先提出的，西德Rich Seifer公司于1981年首先研制成功了第一台实用的商业全反射X射线荧光分析仪，现在TXRF已成为一门成熟的通常可接受的分析技术，广泛用于痕量元素分析、微量样品分析、表面和表层分析、地质样品分析等领域。它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL级以下）、 用样量少（μL、ng级）、准确度高（可用内标法）、操作简便、快速，而且可进行无损分析，成为一种不可替代的全新的元素分析方法。
文献贡献者
X射线衍射原理
简介：丹东通达科技有限公司 X射线衍射原理
丹东通达科技有限公司
简介：丹东通达科技有限公司，公司简介。
衍射仪的选购、实验室注意事项及安全防护
简介：购买设备实际是购买能满足用户需求的某类功能，厂家出售的是能实现这类功能的设备。人们总是选购物美价廉、结实耐用、售后服务优良的产品。产品从购买、使用到若干年后，由于技术进步，完成同样功能的新产品出现，旧设备因精度低、效果差、无附件维修而停止使用，这种寿命周期叫经济寿命周期，寿命周期常指此类。
TXRF元素分析仪介绍
简介：全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。 国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。
X射线衍射仪简介
简介：在产品检验、原材料的质量标准或生产过程的中间控制分析中，你可能已经注意到要求进行“XRD分析”的地方日渐多起来了。
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