集成电路热性能>其他检测 | 快速温度变化试验箱测试半导体表面温度控制-北京雅士林试验设备有限公司

方案摘要

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应用领域	半导体
检测样本	集成电路
检测项目	热性能>其他
参考标准	快速温度变化试验箱

雅士林的快速温度变化试验箱符合半导体表面温度控制的测试标准，针对温度循环测试及温度冲击的许多要求，如：JEDEC-22A-104F-2020、IPC9701A-2006、MIL-883K-2016)，电动车与车用电子的相关国际规范，其主要试验也是依据待测品表面的温度循环试验(如：ISO16750、AEC-Q100、LV124、GMW3172)。

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配置单

温度快速变化试验箱温度快速变化试验机温度变化箱
型号：KWB-100

¥5万 - 10万
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高低温冲击试验箱高低温冲击试验箱参数冲击试验箱
型号：WDCJ-100

¥1万 - 5万
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恒温恒湿试验箱恒温恒湿试验箱恒温恒湿箱型号
型号：DHS- 100

¥1万 - 5万
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臭氧老化试验箱臭氧老化机臭氧试验箱臭氧检测仪
型号：QL-100

¥10万 - 20万
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高低温试验箱高低温交变试验箱高低温箱高低温机
型号：GDW- 100

¥0 - 5万
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紫外老化试验箱紫外老化试验箱型号紫外老化试验箱
型号： ZN-P

¥5万 - 10万
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盐雾试验箱盐雾试验箱型号盐雾试验箱
型号：YWX/Q- 150

¥2万 - 5万
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方案详情

雅士林的快速温度变化试验箱符合半导体表面温度控制的测试标准，针对温度循环测试及温度冲击的许多要求，如：JEDEC-22A-104F-2020、IPC9701A-2006、MIL-883K-2016)，电动车与车用电子的相关国际规范，其主要试验也是依据待测品表面的温度循环试验(如：ISO16750、AEC-Q100、LV124、GMW3172)。

　　早期快速温度变化试验箱的温度循环试验都只有看试验箱的空气温度，目前依据相关国际规范的要求，其温度循环试验的温变率，指的不是空气温度而是待测品表面温度(如快速温变试验箱的空气温变率是15℃/min，可是待测品表面所量到的实际温变率可能只有10～11℃/min而已)，而且会其升降温的温变率也需要对称性、重复性(每一个cycle的升降温波形都一样)、再线性(不同负载温变升降温速度一致，不会有的快有的慢)。