方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 电子元器件产品 |
检测项目 | 可靠性测试 |
参考标准 | 冷热冲击试验箱 |
测试目的:验证被测终端在高低温环境下运行或存储的环境适应能力
测试目的:验证被测终端在高低温环境下运行或存储的环境适应能力
测试仪器:高低温试验箱
技术参数:
1、高温存储:70±2℃试验时间:48H(温度稳定后开始计算);
2、低温存储:-40±2℃试验时间:48H(温度稳定后开始计算);
3、温度冲击存储:温度在-40±2℃/60±2℃之间交替,10个循环;
4、高温工作:50±2℃试验时间:24H(温度稳定后开始计算);
5、低温工作:-20±2℃试验时间:24H(温度稳定后开始计算);
6、高温高湿工作:温度40±3℃,湿度93±3% 试验时间:24H(温湿度稳定后开始计算)。
预置条件:被测终端功能完好,外观正常。
测试步骤:
1)在常温下对被测终端进行外观、功能检查;
2)将被测终端关机状态放进高低温试验箱,内温度以5℃/Min的速率从常温上升到70±2℃温度,温度达到稳定后持续存储48小时;
3)将被测终端从试验箱取出在常温中恢复2小时后,进行外观、装配、功能检查,要求外观、装配、功能与测试前无明显差异;
4)在常温下对被测终端进行外观、功能检查;
5)将被测终端关机状态放进高低温试验箱,高低温试验箱内温度以5℃/Min的速率从常温下降到-40±2℃温度,温度达到稳定后持续存储48小时;
6)将被测终端从试验箱取出在常温中恢复2小时后,进行外观、装配、功能检查,要求外观、装配、功能与测试前无明显差异;
7)在常温下对被测终端进行外观、功能检查;
8)将样机关机状态放进冷热冲击试验箱,样机先在-40℃环境下存储1小时,在5分钟之内,温度上升到60℃存储1小时,此为一个循环。样机共测试10个循环;
9)将被测终端从试验箱取出在常温中恢复2小时后,进行外观、装配、功能检查,要求外观、装配、功能与测试前无明显差异;
10)在常温下对被测终端进行外观、功能检查;
11)将待测样机开机状态,插入用户卡,T-flash卡放进高低温试验箱,其中一台样机插上充电器,另一台样机使用电池供电开机;
12)高低温试验箱内温度以5℃/Min的速率从常温上升到设定的温度,温度达到稳定后持续24小时;
13)将样机从试验箱取出在常温中恢复2小时后,进行外观、装配、功能检查,要求外观、装配、功能与测试前无明显差异,因电池没电导致的无法开机不算故障,可充电后再进行检查;
14)在常温下对被测终端进行外观、功能检查;
15)将待测样机开机状态,插入用户卡,T-flash卡放进高低温试验箱,其中一台样机插上充电器,另一台样机使用电池供电开机。
16)高低温试验箱内温度以5℃/Min的速率从常温上升到设定的温度,湿度设定为标准要求的湿度,温湿度达到稳定后持续24小时;
17)将样机从试验箱取出在常温中恢复2小时后,进行外观、装配、功能检查,要求外观、装配、功能与测试前无明显差异,因电池没电导致的无法开机不算故障,可充电后再进行检查。
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