PXS8-Te同轴光体视显微镜

PXS8-Te同轴光体视显微镜

参考价:面议
型号: PXS8-Te
产地: 上海
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产品详情
仪器简介:

PXS8-Te同轴光体视显微镜
        适用于电子线路板、芯片封装、珠宝鉴定、研相矿本分析、微小精密零件品质控制、装配、公安、银行痕迹对比、教学示范、临床手术样本、农业选种,纺织品检验、养殖业品种优选、病理分析。



技术参数:

PXS8-Te同轴光体视显微镜 主要技术参数:
镜筒:双目,45度倾斜
高眼点大视野目镜:PLAN10X/20 mm
物镜:0.9X-7.4X
变倍比:1:8.2
总放大倍数:9-74X
调焦:粗微动调焦,粗动立杆高度300mm,升降范围105mm
工作距离:102mm
光源:同轴光.



主要特点:

PXS8-Te同轴光体视显微镜 特点:
       PXS8-Te来自美国的品牌,目前国内仅有的高倍立体显微镜,我们采用和国外同步的同轴光技术,以满足对透明封装后的芯片特殊检测标准的使用要求。
品质优良的光学系统使图像更明亮,即使长时间观测眼睛也不会疲劳。
粗微动的调焦首次应用在高倍体视上,使高倍调焦变得更加精准。
多种支架的选配,总能满足复杂工位的操作要求。
还有各种光谱光源的配合,帮助解决碰到的困难。

苏州市莱顿科学仪器有限公司为您提供PXS8-Te同轴光体视显微镜,nullPXS8-Te产地为上海,属于立体显微镜、体视显微镜,除了PXS8-Te同轴光体视显微镜的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多立体显微镜、体视显微镜,莱顿仪器客服电话,售前、售后均可联系。

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