诚挚祝贺山东大学购置我公司的载流子特性分析系统，感谢广大客户一直以来的支持，希望我公司设备能为老师们的科研事业有所助力！载流子瞬态特性分析系统用于太阳能电池瞬态光电性能测量，是一款对于光电器件微观机理研究提供了有力的测试工具；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。
主要测量功能：
• 大功率点MMP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法）
• 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC）
• 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV）
• 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED）
• 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage）
• 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV）
• 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV）
• 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV）
• 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV）
• 几何电容，电容率（ MIS 线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV）
• 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS）
• 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f）
• 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V）
• 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L）
• 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL）
• 载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子）
• OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）
安装现场：
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