| 型号： | Genius IF |
| 产地： | 以色列 |
| 品牌： | Xenemetrix(星迈) |
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| 应用领域： |
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一、 主要特点
(1)、可对C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)进行无损定性、定量分析；
(2)、采用专利WAG(Wide Angle Geometry)技术，配备8个二次靶；
(3)、8款管滤光片，更快更精确的测定微量及痕量元素；
(4)、标准配置硅漂移探测器SDD，适于高和低原子序数的元素分析检测；
(5)、针对轻原子序数元素，可配备分辨率达123eV的SDD LE探测器；
(6)、外型坚固耐用，适于移动实验室，符合冲击试验MIL810E规格；
(7)、检测光斑可变，适于不同尺寸和形状的样品检测；
(8)、配备集成电脑、专业nEXt™分析软件，操作方便；
二、二次靶激发技术介绍
二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低检测器的检测限。如图，样品为含少量Cr，Mn，Fe杂质的Ni合金。当直接激发时(绿)，杂质元素的吸收信号被Ni元素的吸收信号淹没；相反，使用Ni二次靶激发时，杂质元素的吸收信号被大大加强。
三、主要技术参数
系统规格 | SDD 版本 | SDD LE |
测量范围 | F(9) - Fm(100) | C(6) - Fm(100) |
测量浓度 | 次 ppm -100% | |
X-射线管靶材 | Rh靶 | |
X-射线管电压/功率 | 50kV, 50W | |
激发类型 | 直接激发和二次靶激发 | |
探测器 | 硅漂移探测器SDD | 超级 SDD |
分辨率(FWHM) | 129eV ± 5eV | 123eV ± 5eV |
自动进样器 | 8位 | |
工作环境 | 空气/真空/氦气 | |
管滤光片 | 8款软件可选 | |
二次靶 | 8种 | |
操作软件 | nEXt™分析包(包含基础基本参数法) | |
选配件 | 16位自动进样器、专业基本参数法、真空泵、氦气净化器等 | |
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