蔡司场发射扫描电子显微镜 Sigma系列
 蔡司场发射扫描电子显微镜 Sigma系列
 蔡司场发射扫描电子显微镜 Sigma系列

蔡司场发射扫描电子显微镜 Sigma系列

报价:面议
型号: Sigma
产地: 德国
品牌: 蔡司
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核心参数
产品详情
简介
蔡司新一代场发射扫描电子显微镜Sigma系列集高质量成像、分析及广泛应用于一体,通过直观的工作流程提升效率。Sigma系列提供多种探测器选择,适用于半导体、能源、磁性及生物样品等新材料的研究。其智能高效的原位实验平台和先进的EDS分析系统确保高精度的数据采集。Sigma系列不仅在材料科学、生命科学和工业检测中表现卓越,还广泛应用于刑侦、考古等领域,是一款多功能电子显微镜。

[ 产品简介 ]

蔡司新一代场发射扫描电子显微镜Sigma系列,具有高质量的成像和分析能力,将先进的场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验完美结合。利用Sigma系列直观的4步工作流程,在更短的时间内获得更多的数据,提高测试与生产效率。可选配多种探测器,以满足半导体、能源等新材料、磁性样品、生物样品、地质样品等不同的应用需求。结合蔡司原位电镜实验平台,可以实现自动智能化的原位实验工作流程,高效率获取高通量、高质量的原位实验数据。领先的EDS几何设计保证了出色的元素分析性能,分析速度高、精度好、结果可靠。高分辨、全分析、多扩展、强智能、广应用,全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科学和工业检测等领域的“多面手”。

[ 产品特点 ]

独特的Gemini镜筒设计,低电压高分辨,无漏磁

广泛全面的应用场景

丰富灵活的探测手段

智能高效的工作流程

先进可靠的分析系统

强大完善的扩展平台

[ 应用领域 ]

材料科学,如纳米材料高分辨成像,高分子聚合物等不导电样品成像,电池材料成分衬度成像,二维材料分析

生命科学,如生物样品超微结构成像,冷冻样品高分辨成像

地质矿物学,如地质样品高分辨成像、成分分析以及原位拉联用分析

工业应用,如组件失效分析,工艺诊断

电子半导体行业,如质量控制与分析,6英寸Wafer快速换样,电子束曝光技术(EBL)

钢铁行业,如夹杂物分析,金属材料自动原位成像分析

刑侦、法医学

考古学、文物保护与修复


NanoVP lite模式下断裂的聚苯乙烯表面成像

氧化铝颗粒高分辨二次电子成像

ETSE探测器氧化锌枝晶成像

InLens SE探测器氧化锆&氧化铁复合材料成像

Sense BSD探测器刺毛苔藓虫超微结构成像

aBSD探测器超导合金成像




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