微区分析X射线荧光能谱仪

特点：

1.第三代微区分析X射线荧光能谱仪；

不仅可对样品的微小区域进行快速的元素无损分析，还可对超大样品的表面（面积可达EC 标准线路板规格的2倍， 233x160mm） 进行元素分布分析；

2.专为满足多种分析任务而研发的微区分析仪器；

3.灵敏度高，无破坏性，适用于多种行业及科研领域；

4.激发源采用风冷式细焦点X射线管；

5.准直器由软件精确控制，测量点的尺寸可在200μm -4mm 之间以固定的步幅调整；

6.检测器（SDD）采用高分辨硅漂移，半导体制冷，计数率高达250,000cps；

7.可对完全未知样品进行快速分析，完成从Mg ~ U所有元素的测定只需不到180秒；

8.可对完全未知样品进行快速分析，完成从Mg ~ U所有元素的测定只需不到180秒；

9.氦气保护系统可保证轻元素的分析效果，对样品不会有任何损伤，氦气消耗量少；

10.分析过程简单、快速、流畅。只需把样品放到样品台上，根据引导程序，即可完成单点测定、直线扫描或元素分布分析。