IC卡动态弯扭试验机成功交付到上海伯乐电子有限公司实验室

2013-03-06 10:40 下载量：1

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热烈庆祝上海衡翼精密仪器有限公司生产的HY(IC)IC卡动态弯扭试验机交付到上海伯乐电子有限公司使用。 HY(IC)IC卡动态弯扭试验机技术参数: 本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 完全符合以上标准。外形尺寸：L670 X W380 X H220 儀器重量：70kg 電壓：AC220V±5% 功率：35W 測試速度：彎曲扭曲30r/min及0.5Hz 測試周期：1~9999次扭曲度：±15°±1° 雙向d=86 mm 正反向各15°，总扭曲角度30° 长边最大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm) 长边最小位移量为2mm±0.50mm，短边最大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm) 长边最小位移量为1mm±0.50mm，夹具安装尺寸完全按照国家标准执行。 3、产品用途：用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。

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文献贡献者

上海衡翼精密仪器有限公司

银牌会员 | 第16年

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