仪器简介:由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低,它们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻率的测量。
用途:
(1) 金属、半导体、导电高分子薄膜(块体)电阻率的测量;
(2) 金属薄膜材料电阻率的测量(最大厚度0.2毫米);金属块体材料电阻率的测量(最大厚度6毫米)
仪器组成:
1、 四探针组件
由具有引线的四根探针组成。
2、 SB118精密直流电流源
输出电流10-6~0.2安培范围内可调。
3、 直流数字电压表
直流数字电压表是具有6位半字长、0.1为微伏电压分辨率的带单片微机处理技术的高精度电子测量仪器。
技术参数:由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低,它们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻率的测量。
用途:
(1) 金属、半导体、导电高分子薄膜(块体)电阻率的测量;
(2) 金属薄膜材料电阻率的测量(最大厚度0.2毫米);金属块体材料电阻率的测量(最大厚度6毫米)
仪器组成:
1、 四探针组件
由具有引线的四根探针组成。
2、 SB118精密直流电流源
输出电流10-6~0.2安培范围内可调。
3、 直流数字电压表
直流数字电压表是具有6位半字长、0.1为微伏电压分辨率的带单片微机处理技术的高精度电子测量仪器。
主要特点:由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低,它们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻率的测量。
用途:
(1) 金属、半导体、导电高分子薄膜(块体)电阻率的测量;
(2) 金属薄膜材料电阻率的测量(最大厚度0.2毫米);金属块体材料电阻率的测量(最大厚度6毫米)
仪器组成:
1、 四探针组件
由具有引线的四根探针组成。
2、 SB118精密直流电流源
输出电流10-6~0.2安培范围内可调。
3、 直流数字电压表
直流数字电压表是具有6位半字长、0.1为微伏电压分辨率的带单片微机处理技术的高精度电子测量仪器。
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