HORIBA JY研究级全自动椭偏仪UVISEL 2
HORIBA JY一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE
智能型多功能椭偏仪Smart SE
仪器介绍:在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。 技术参数:·可实现快速、实时在线监测样品膜层变化 主要特点:将激发和探测头引入生产设备,可实现:· 动态模式:实时监测膜厚变化· 光谱模式:监测薄膜的界面和组分
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