型号: | Ramboss Star-F |
产地: | 其他国家 |
品牌: | dongwoo |
评分: |
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Ramboss Star-F是一款独特的集成了扫描探针显微镜、激光共聚焦/荧光显微镜和拉曼光谱仪的系统。它可在得到拉曼光谱的同时获得高成像分辨率。
Ramboss Star-F方便用户能在分子水平上用不同的技术手段来分析、研究样品。这样的集成,能让用户极大的提高工作效率,将更多的时间用于数据采集和分析,而无需为繁琐的仪器操作而苦恼。
1. 光源
A. IK3501R-G, 325nm HeCd 激光器
- 输出功率 : 50mW 风冷, TEM00
B. QUV266-50, 266nm 半导体激光器
- 最大平均输出功率 : 50mW
- 脉冲频率 : 1-100KHz(内置可调)
0-200KHz(外部可调)
- 脉冲宽度 : 10 ns to 20ns
- 信号模式, TEMoo, M2<1.3, 典型l M2<1.1
2. 检测室
光路 &可变ND滤波器
拉曼边缘及带通滤波器 用于266 & 325nm
(检查斯托克斯线)
铝镜&分光镜激光直接输入和光谱仪输出
A. MonoRa 512i, 500mm焦距高分辨率光谱仪
- 500mm 焦距多接口光谱仪
- 分辨率: 0.05nm @435.8 nm (1200gr / mm
grating), 10 um狭缝 0.12nm 1200gr / mm grating
0.08 nm with 1800 gr / mm / 10um 狭缝 /
1024 像素CCD
- 拉曼位移从 305Cm-1到 4000Cm-1 @
1200gr / mm @785nm @ 41 nm 覆盖
B.高性能TE 制冷 CCD 检测探测器
- 背照式CCD
- 像素: 1024x128 pixels,
- 光谱范围 : 330-1050nm
3. AFM -拉曼 模块
A. MV 4000 SPM/NSOM/ 多探头
及样品扫描
- 扫描组件: 高达 85 微米平面扫描仪
包括:
B. Labview 控制器 & 软件
C. Tip/ 样品扫描控制器
D. MV4000 接口平台 (双探头)
E. 增强 Raman AFM/TERS/NSOM 集成包
F. 隔音罩
H. 拉曼软件模块
4. 附加探头 :
A. MultiView4000 附加探头组件
B. Labview 控制器 & 软件
AFM探针和激光光斑完美的同步协调。AFM探针可在纳米级的精度上定位于激光光斑中,在激光扫描和样品扫描的6个轴中,全部采用全量程闭环控制系统。
高数值孔径的光学物镜和SPM系统紧密的集成在一起,让系统的光学稳定性达到前所未有的高度—为长程和微弱的信号而设计。
反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。
电冷至-70°C的CCD,用于光谱探测和成像。
也可选用APD来进行光子计数。
在激发通道和检测通道中,用户可灵活方便的配置偏光光路。
多功能的集成软件控制系统,所有的系统模块包括AFM、光路系统和机械系统都由统一的软件来控制。激光器、光栅、针孔等等,都可由软件来切换或调节。
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