激光剥蚀进样-光谱元素分析系统LA-LIBS_价格-北京普瑞亿科科技有限公司

产品详情

工作原理

激光剥蚀技术LA及激光诱导击穿光谱LIBS相结合，J200接收等离子体发射光进行快速光谱分析，同时将激光剥蚀颗粒高效传输至ICP-MS系统。

主要特点：

J200具有LA和LIBS双系统测量能力，可以单独运行LA 或LIBS，或者同时运行LA- LIBS复合系统。激光fs 或ns可选。

样品自动对焦、高度自动调整、光斑大小调节。

可对固、液、气样品进行全元素LIBS快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒或者液体样品直接送入ICP-MS系统，实现ppb级精确分析。

可用于分析元素周期表中的所有元素。

ASI数据分析软件可在一个数据分析平台进行，分析LIBS和LA数据；可进行快速映射功能。

应用领域

复杂样本的定性和定量分析

制造质量控制:制药、生物技术、电子、太阳能、薄膜等

污染控制

土壤、植物和矿物分析

玻璃、油漆和其他痕迹证据的法医分析

材料来源确定

学术界、政府和商业企业研究和实验室分析

性能指标

激光系统
最大能量	25mJ@ 266nm；能量输出 0-100%可调	重现率	20Hz，脉宽<6ns(FWHM)，DI 水冷却系统
能量控制	光学衰减连续可变	光斑大小控制	35-250 微米可调(到达样品表面的烧蚀光斑直径)
激光光闸	自动双光闸，稳定控制激光能量和 LIBS 信号测量	激光安全	I 级，样品放置区域有滤光器，有激光锁定保护

检测器系统
谱宽190-1040 nm	测量过程不不受环境温度变化的影响
分辨率λ/Δλ高达 6000	光谱精度优于±0.05nm
杂散光抑制	探测器门控
门延时为0.5ns-1ms	分辨率 0.5 ns

样品平台系统
全自动 XYZ 行程	XY 行程 100mmx100mm，Z 行程 35mm
XY 行程分辨率 0.2um，Z 行程分辨率 0.2um	XY 行程重现率 0.2um，Z 行程重现率 0.2um
速度 0.001-20 mm/s	气压可控
样品放置区域有滤光器，有激光锁定保护功能	含高效空气颗粒清洁器
具备专配 670 纳米激光协助样品高度自动调整功能
双 CMOS 相机，广角用于定位采样区域，高倍成像用于观察某一特定区域。并可在电脑屏幕上实时观察样品烧蚀过程
样品池-可充氦气或氩气惰性气体保护;锂电池样品需要保持在无水，无氧的条件下进行测量。测量碳，氮，氧，氢，氟等元素时;样品池需要保持在氦气气氛中。

操作软件
激光自动采样设置	单点、网格、光栅状、线性扫描或用户自定义设置
数据处理系统	包含谱线自动识别功能、光谱处理功能、LIBS 的强度监测、化学统计功能等
元素制图及深度分析控制	包含84种元素的Trulibs™光谱数据库和LIBS NIST 理论数据库（涵盖所有元素）
设置预脉冲个数用来清洗样品表面污染物	高度自动化的测量功能
元素特征线的自动标定、标准曲线建立（单变量和多变量校准曲线）、主成分回归功能可用于样品分类

北京普瑞亿科科技有限公司为您提供激光剥蚀进样-光谱元素分析系统LA-LIBS，nullLA-LIBS产地为美国，属于其它元素分析仪，除了激光剥蚀进样-光谱元素分析系统的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其它元素分析仪,普瑞亿科客服电话400-860-5168转1706，售前、售后均可联系。

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型号：	LA-LIBS
产地：	美国
品牌：
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