扫描电镜线宽标样 CDMS ISO标准特征尺寸放大标样蚀刻线

扫描电镜线宽标样 CDMS ISO标准特征尺寸放大标样蚀刻线

参考价:面议
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品牌: Ted Pella
货号: 691-1
核心参数
广州竞赢科学仪器有限公司
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产品详情

符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。

Pelcotec CDMS ISO校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样,可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用蚀刻制造技术制成,可以覆盖广泛的测量范围。

SDMS-2

Pelcotec CDMS ISO校准标样有两种特征尺寸范围,分别是 Pelcotec CDMS-1T ISO和 Pelcotec CDMS-0.1T ISO,都提供可追溯和认证标样,共有4个种:

Pelcotec CDMS-1T ISO: 可追溯,特征尺寸范围为2.0毫米到1微米,放大倍数范围为10倍到20,000倍,非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。

PELCO CDMS-1T AND 1C

产品编号描述单位
701-1Pelcotec CDMS-1T ISO,2mm - 1um,可追溯,没有样品台,蚀刻线
699-1Pelcotec CDMS-1T,2mm - 1um,可追溯,没有样品台,蚀刻线

Pelcotec CDMS-1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米,放大倍数范围为10倍到20,000倍,非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。

产品编号描述单位
711-1Pelcotec CDMS-1C ISO,2mm - 1um,经过认证,没有样品台,蚀刻线
703-1Pelcotec CDMS-1C,2mm - 1um,经过认证,没有样品台,蚀刻线

Pelcotec CDMS-0.1T ISO: 可追溯,特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米,放大倍数范围高达10倍到200,000倍,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。

PELCO CDMS Magnification Standard

产品编号描述单位
708-01Pelcotec CDMS-0.1T ISO,2mm - 100nm,可追溯,没有样品台,蚀刻线
700-01Pelcotec CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可追溯,没有样品台,蚀刻线

 

Pelcotec CDMS-0.1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米,放大倍数范围高达10倍到200,000倍,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。

产品编号描述单位
712-01Pelcotec CDMS-0.1T ISO,2mm - 100nm,经认证,没有样品台,蚀刻线
704-01Pelcotec CDMS-0.1T ,2mm - 100nm,经认证,没有样品台,蚀刻线

 

Pelcotec CDMS  ISO标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10um、5um、2um和1um(适用于 Pelcotec CDMS-1T ISO 和 Pelcotec CDMS-1C ISO)。而Pelcotec CDMS-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10um、5um、2um、1um、500nm、250nm和100nm。

较小的特征尺寸被嵌套在一起,以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm,厚度为525um ±10um,在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec CDMS ISO校准标样都有一个独特的识别编号。

Pelcotec CDMS ISO校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用,Pelcotec CDMS ISO安装在12mm的AFM圆片上,而对于LM应用,则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。

可选的样品座。

QQ图片20231114132246.png


Pelcotec CDMS-1-ISOPelcotec CDMS-0.1-ISO
基底:硅
基底尺寸:2.5×2.5mm
基底厚度:525±10μm
唯一序列识别号
2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块
垂直于 X 轴的刻度线,间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm
仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出
可在晶圆级追溯到 NIST(ISO 17025:2017 认证标准)T 版本T 版本
CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证(ISO 17025:2017 认证标准)C版本C版本
不装在样品台上可用
可安装在 SEM样品台上
精度优于0.3%
线边缘粗糙度为每 1um 线边缘长度 +/- 0.3nm
测量报告的不确定性 (k=2)* 为 ±0.012μm


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