OLED  TOF测试系统
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OLED TOF测试系统

参考价:面议
型号: T3000
产地: 韩国
品牌: McScience
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飞行时间法(TOF)测量是表征有机半导体材料载流子迁移率的关键,T3000飞行时间测量系统基于

脉冲激光和高速测量电子学进行标准飞行时间实验;有助于载流子迁移率随温度变化的研究.


- 有机半导体中的载流子输运

- 电子/空穴迁移率的测量

- 飞行时间法测量(TOF)

- Dark Injection Transient (DIT)

- Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage(CELIV)

- 低温测量



主要客户香港大学,中科院长春应化所,中科院福建物构所......



南京伯奢咏怀电子科技有限公司为您提供McScienceOLED TOF测试系统T3000,McScienceT3000产地为韩国,属于其他,除了OLED TOF测试系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供经典型 OLED 寿命测试系统、OLED I-V-L测试系统、OLED 光电&寿命综合测试系统,McScience中国代表处客服电话400-860-5168转1730,售前、售后均可联系。

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