| 型号： | NanoMap-WLS |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | 阿尔派 |
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薄膜测厚仪
仪器简介：
提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。
膜厚仪主要特点：
◆微观二维（2D）和三维(3D)形貌轮廓获取
◆多种测量功能
将采样数据运算后,可获得精确定量的面积（空隙率，缺陷密度，磨损轮廓截面积等）、体积（孔深，点蚀，图案化表面，材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等）、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。
NanoMap-1000WLI
NanoMap-1000WLI膜厚仪是非接触式三维高清图像的光学轮廓仪白光干涉仪器 - 白光干涉带来了高的分辨率、 400万像素的图像、大的扫描范围，可定制的波长范范围，使用户可以轻松灵活的的到任何表面形貌。提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。
测量表面可以覆盖90%以上材料表面。设备传感器精度高，稳定性好，材料应用面广。热噪声是同类产品最低的。垂直分辨率可达0.01 nm ( phase-shift mode) 可测跨学科、跨领域的各种样品表面，包括透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；
膜厚仪
参数性能追寻持续改进的目标
AEP的技术致力于日新月异的改善产品性能参数。 欲了解最新的配置和性能，请与我们联系。
搭载多镜头 最多可同时搭载6枚物镜
Z轴聚焦范围 0.1纳米至10mm
手动旋转平台范围 360度
高清图像
2维、3维的直方图等视图
白光干涉可以呈现2维和3维图像。利用所提供的软件，通过设置一些选项、可以得到客户需求的的曲线、标绘、视图（例如直方图及雷达图等）
成像光源
长寿命强光LED，用户可自选波长范围
白光干涉仪对其光源承诺史无前例的十年质保。高亮的LED允许成像样品的反射率范围从小于0.4%到100%（高亮度的LED使反射率从小于0.4%到100%的样品均可清晰成像。）白光干涉光源承诺十年质保。
三维形貌仪允许客户改变可用波长扫描各种样品。
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