有机硅涂层含量测试仪

PII有X射线源、偏振移动次级靶和封气正比计数器组成，显著提高了轻元素如：Mg、Al、Si、P、S、Cl的分析能力，全新设计的正比计数器计数率高，滤光片系统可将原子序数相近元素的谱峰分离开。采用内置式计算机，无需配备外部计算机。PII无需外部鼠标和键盘，具备USB，VGA,以太网接口便于连接到网络或外部设备，是一款独特的高性能偏振X射线荧光光谱仪，操作简单、价格合理、样品处理能力强。

1 48KV X射线管

2 采用HOPG偏振X射线源，适合测定轻元素

3 采用移动式次级靶，适合测定重元素

4 带滤光片的正比计数器

5 内置触屏式计算机

6 Windows操作系统

7 网络通讯接口

8 一键式操作，简便快捷

9 性能价格比高