离子色谱法测定电子级二氧化硅中的痕量磷-瑞士万通光伏行业应用专辑

2014/12/12   下载量： 5 次

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瑞士万通光伏行业应用专辑离子色谱法测定电子级二氧化硅中的痕量磷半导体中掺杂剂的量决定半导体的质量，并直接影响它的电学性质，最重要的是它会直接影响物质的载流子浓度。

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