资料摘要
资料下载快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，低成本、高效率！ 功能强大、性能可靠且操作简单的能量色散型X射线荧光光谱仪，确保品质的同时降低成本。 X射线荧光分析的优点 • 最少或无需样品制备 • 无损分析 • 可测元素范围广： Ti 22 to U92 • 可分析固体和溶液 • 分析快速：几秒内得到结果 • 定性、半定量和全定量分析 • 操作容易，只需要简单培训 • X射线荧光标准检测方法、规格和操作指导全球通用，可提高产品质量、 安全性，便于市场准入和贸易，增强客户信心。例如： X-Strata920 符合： –ASTM B568: X射线光谱仪测量镀层厚度的标准测试方法 –ISO 3497: 金属镀层 — X 射线光谱法测量镀层厚度
文献贡献者
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直读光谱仪原理及结构简介
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