资料摘要
资料下载原子力声学显微镜是基于福朗霍夫非破坏性测量研究所(Saarbrucken,Germany) Walter Arnold教授的工作研制的。Hirsekorn等精辟地描述了常规的AFM与AFAM之间的差别。在常规AFM中，当扫描材料表面时，悬臂（cantilever）振动，样品和仪器顶端产生力。而在AFAM 中，一个声学调制器被放在样品的下面，产生垂直和水平的振动。系统利用悬臂产生的屈曲和扭转，基于样品局部的弹性、粘性和摩擦性质产生图象。这种分析类型叫做接触共振光谱学（contact resonance spectroscopy），并同时产生拓扑结构光谱和AFAM图象。NT-MDT网站上有动画来解释真实的实验以及衍生出来的图象和测量结果。
文献贡献者
压电响应力显微镜PFM
简介：压电响应力原子力（PFM）是在原子力显微镜（AFM）的基础上，用导电探针在压电材料上进行测试，得到纳米尺度的压电场机压电分布。具有分辨率高，扫描速度快等特点。
EC AFM电化学原子力显微镜
简介：EC AFM是在原子力显微镜样品台上安装电化学池，可以在纳米尺度进行电化学性能的研究。在电化学发生的同时，进行样品表面的形貌测试。
原子力显微镜的纳米压痕及纳米刻蚀
简介：原子力显微镜的纳米压痕及纳米刻蚀功能是在原子力显微镜的基础上，开发出来的使用刻蚀针尖在样品表面进行压痕和刻蚀，可以得到纳米尺度的压印及图案刻蚀。
开尔文探针力显微镜在光电领域应用
简介：开尔文探针力显微镜在光电领域的应用，开尔文探针显微镜可以测试在纳米尺度样品的电学性能，包括电流，电压等等在内的一系列电学性能。
MFM磁力显微镜应用
简介：NT-MDT磁力显微镜（MFM）是通过磁力探针在磁性材料样品上扫描，可以得到样品纳米尺度的形貌特征，磁力大小以及磁场分布的一种分析设备。具有分辨率高，稳定性好，扫描范围大，响应快等特点。
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