兰光电池硅片厚度仪硅片厚度测定仪硅片厚度检测仪C640Labthink C640H

产品详情

电池硅片厚度仪硅片厚度测定仪硅片厚度检测仪C640是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。

设备技术特征：

1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。

2、高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。

3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。

电池硅片厚度仪硅片厚度测定仪硅片厚度检测仪C640测试原理：

将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。

执行标准：ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）

电池硅片厚度仪硅片厚度测定仪硅片厚度检测仪C640应用材料：

基础应用：

薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定

纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定

扩展应用：

金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定

瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定

纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定

非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定

其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定

电池硅片厚度仪硅片厚度测定仪硅片厚度检测仪C640技术指标：

① C640M型号参数：

测试范围（标配）：0～2mm

分辨率：0.1μm

重复性：0.8μm

测量范围（选配）：0～6、0～12mm

测量间距：0～1000mm（可设定）

进样速度：1.5～80mm/s（可设定）

附加功能：

自动进样机：可选配置

DataShieldTM数据盾：可选配置

GMP计算机系统要求：可选配置

测量方式：机械接触式

测量压力及接触面积：

薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2

纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2

电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）

净重：26kg

② C640H型号参数：