| 型号： | 15-2000-230 |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | Allied |
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创新点
仪器简介：
MultiPrep™ 系统适用于高精微（光镜，SEM，TEM，AFM，etc）样品的半自动制备。主要性能包括平行抛光，精确角抛光，定址抛光或几种方式结合抛光。它保证良好的重现性，可以解决多用户使用的矛盾。 MultiPrep 无须手持样品，保证只有样品面与研磨剂接触。
技术参数：
• 测微计控制样品的设置
• 精确轴设计保证样品垂直于研磨盘，使之同时旋转。
• 数字千分表显示样品行程，增量1微米（实时）
• 双轴测微计控制样品角坐标设置（斜度和摆度），10°幅度， 0.02° 增量。
• 6倍速样品自动摆动。
• 8倍速样品自动旋转。
• 样品调整范围：0-600克（100克增量）
• 数字计时器与转速计
• 凸轮锁紧钳无需其他辅助工具，方便用户重新设置工作夹具。
• 符合CE标准
• 美国设计并制造
主要特点：
TechPrep™ 为MultiPrep™ 的定位装置提供电源。人性化的控制面板设计控制MultiPrep™所有功能。研磨盘转速范围（顺/逆时针）为5到350PRM。除触摸开关控制所有功能外，还有数字触摸键盘用于设置研磨盘速度、计时器、摆动与旋转设置。此系统用水符合冷却标准；自动滴液给料系统适用研磨悬浮液和润滑剂。
| 用户单位 | 采购时间 |
| 中国科学院物理研究所 | 2015/06/18 |
| 中国科学院半导体研究所 | 2014/01/24 |
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