OLED/QLED发光器件寿命测试系统

OLED/QLED发光器件寿命测试系统

参考价：¥10万 - 20万
型号： 发光器件寿命测试
产地： 北京
品牌： TEO
评分：
核心参数
先锋科技（香港）股份有限公司
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产品详情

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统

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32 路系统                            64 路系统

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统参数

项目

关键指标

备注

通道数量

32、64、128

可扩展到512 路

测量模式1

恒流、恒压、恒亮度

需根据客户需求选定

测量模式2

Pulse 电压、Pulse 电流

选配

电流输出

0.03uA~100mA，精度优于±1%

用户参照核心技术电流源选配

电压输出

饱和亮度

1.0~20V，精度<±1% 通常10000cd/m2 以上

标配

可根据客户需求定制

器件结构

底发光、顶发光、倒装、正装

需根据用户需求定制

测试盒/ 夹具

测试基片尺寸 5cm×5cm

可定制支持20cm×20cm

高温测试

RT+10 度~100 度；-50 度~100 度；环境测试

选配

特殊条件

特殊气氛测试；手套箱测试；UPS 电源等

选配、定制

软件平台

LabView

稳定、高效

先锋科技（香港）股份有限公司为您提供TEOOLED/QLED发光器件寿命测试系统，TEO发光器件寿命测试产地为北京，属于国产便携式分光光度计，除了OLED/QLED发光器件寿命测试系统的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供Radiant Zemax SIG300小光源近场光线分布测量系统、CMS明暗截止线测量系统、GES系列车灯配光测量系统,先锋科技客服电话400-860-5168转1980，售前、售后均可联系。

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