OLED多片式IVL测试系统

OLED多片式IVL测试系统

参考价：¥20万 - 30万
型号： 多片式IVL
产地： 北京
品牌： TEO
评分：
核心参数
先锋科技（香港）股份有限公司
金牌会员 丨 15年
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产品详情

系统说明：OLED多片式IVL测试系统应用于大批量测试IVL 性能曲线以及在视角变化过程中亮度的变化。主要面向OLED 材料制作和OLED 屏体的生产厂商。
一、系统原理
6、多片式-OLED-IVL-测量系统.jpg
二、系统特点
· 灵活多片式
· 大视角测量
· CCD 自动对位系统
· 系统高度集成
· 温度控制单元（选配）
三、设备系统实物展示
6、多片式-OLED-IVL-测量系-2.jpg
四、测试项目
多片式-OLED-IVL-测量系统-3.jpg

先锋科技（香港）股份有限公司为您提供TEOOLED多片式IVL测试系统，TEO多片式IVL产地为北京，属于国产其它光学测量仪，除了OLED多片式IVL测试系统的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供LCD/OLED缺陷自动光学检测系统、OLED/QLED发光器件寿命测试系统,先锋科技客服电话400-860-5168转1980，售前、售后均可联系。

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