基于CMOS平板探测器的X-Ray全自动盘料点数机应用

2017-11-07 13:31  下载量:0

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利用X光大角度透视的原理,得到盘料的X-Ray图像,通过软件分析,得到计数结果,相比传统的点料方式,大大的提高了工作效率,节约人工成本。

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