型号: | LK-JHW |
产地: | 天津 |
品牌: | 徕科光学 |
评分: |
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利用近红外(900~1700nm)波段相对可见光绕射及穿透能力强、作用在硅片(锗片)吸收率低的特点,可以实现对封装芯片及覆盖片晶圆的有效检测,
成功解决了传统工业显微镜无法对拥有覆盖片(硅片、锗片等)的芯片或晶元直接观测问题。
图1:硅片覆盖芯片
图2:
可见光成像无法看到内部
图3:
红外光成像可以看到内部效果
可以对SiP(System in Package:系统级封装)、CSP(Chip Size Package:芯片级封装)、三维组装等用可视观察无法看到的领域进行无损检查和分析。
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