型号: | EM V DH |
产地: | 日本 |
品牌: | |
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ETAC 日本原装进口EM电子迁移评估系统,实现了施加大电流,高精度的测量
以对AI及Cu的配线可靠性评价之一的电子迁移现象通过施加高电流、高精度测量进行评价的EM测试器为中心,加热方式可以是烤箱(热风循环方式:V100),和DH型(直接加热方式:V200,V400)之中选择其中一种。
ETAC 日本原装进口EM电子迁移评估系统,实现了施加大电流,高精度的测量
以对AI及Cu的配线可靠性评价之一的电子迁移现象通过施加高电流、高精度测量进行评价的EM测试器为中心,加热方式可以是烤箱(热风循环方式:V100),和DH型(直接加热方式:V200,V400)之中选择其中一种。
主要规格:
温度范围:V100 max 250度 V200 MAX 300度 V400 MAX 400度
应力范围:0.01~500mA
测量范围:0.001~100.00V
TEG形状:Dip600 28pin
TEG数量:V100 :720DEG V200 : 144TEG V400 :144TEG
ETAC 日本原装进口EM电子迁移评估系统,实现了施加大电流,高精度的测量
以对AI及Cu的配线可靠性评价之一的电子迁移现象通过施加高电流、高精度测量进行评价的EM测试器为中心,加热方式可以是烤箱(热风循环方式:V100),和DH型(直接加热方式:V200,V400)之中选择其中一种。
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