OSP薄膜测量仪

仪器简介：

标准模式
工业规格
自动调焦
防震台
自动的X-Y平台

技术参数：

活动面积：864 x 648㎛ / 86.4 x 64.8㎛
波长范围：420 ~640 nm
厚度测量范围：350Å~3㎛ 
最小光斑尺寸：1.48㎛, 0.148㎛
透镜旋转台：5X,50X
可测量层：1
样品台尺寸：200mmX200mm
Z轴可重复性：± 1㎛
Z轴自动调节结构：
Z direction Head Movement 
Travel range : 50mm 
Max. velocity : 50mm/s

主要特点：

非接触式，非破坏式
可测量亚微米光斑
实样监控
易操作界面


应用领域：

专用于测量PCB/PWB板的铜箔表面的OSP厚度。