薄膜厚度测量仪/测厚仪(ST系列)

2011-08-25 13:34  下载量:17

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研究用薄膜厚度测量仪ST系列是K-MAC公司于2000年推出的面向大学、研究所和中小企业推出的科研型薄膜测厚仪,其采用白光干涉法,不损害样品表面,使用简便,可快速测量100A至数十μm水准的厚度,最多测量膜层可达3层。ST系列测厚仪可用于半导体、平板显示、纳米技术、电子材料等众多领域的研究。

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