方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | |
检测项目 | |
参考标准 | 无 |
采用UVISEL相调制型椭圆偏振光谱仪对ZrO2 Thin Films on Glass Substrates样品进行分析,研究其膜层厚度和相应光学性质。
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